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0 索取号:TP333-53/E20051/12 作者:IEEE International Workshop on Memory Technology、 Design and Testing (12th : 2004 : San Jose、 Calif.)、Rajsuman、 Rochit.、Wik、 T. (Thomas)、IEEE Computer Society.、IEEE Computer Society. Technical Committee on VLSI.、IEEE Computer Society. Technical Council on Test Technology.、IEEE Solid-State Circuits Society.、 出版社:Los Alamitos, Calif. : IEEE Computer Society, c2004.
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0 索取号:TN431.2/E901.3-2 作者:Hodges、 David A.、 1937-、Jackson、 Horace G.、Saleh、 Resve A.、 1957-、 出版社:北京 : 清华大学出版社 : McGraw-Hill Education (Asia), 2004.
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0 索取号:E330.1-53/E20052 作者: 出版社:Singapore : Institute of Southeast Asian Studies, c1991.
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0 索取号:D815.5/E20063 作者:Millard、 Mike、 1947-、 出版社:Armonk, N.Y. : M.E. Sharpe, c2004.
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0 索取号:D815.5/E20059 作者: 出版社:Stanford, Calif. : Stanford University Press, 2004.
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0 索取号:D871.22/E20055 作者: 出版社:London ; New York : Routledge, 2005.
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0 索取号:F133.04/E20051 作者: 出版社:London ; New York : RoutledgeCurzon, 2003.
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0 索取号:D731.0/E20051 作者:Lim、 Robyn、 1947-、 出版社:London ; New York : Routledge, 2003.
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0 索取号:D815.5/E20055 作者: 出版社:Beijing : Peking University Press, 2004.
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0 索取号:Z88:K296.58/E20051 作者:Shulman、 Frank Joseph、 1943-、Shulaman、 Anna See Ping Leon.、 出版社:Hong Kong : Hong Kong University Press, 2001.
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0 索取号:I218.658/E20051 作者: 出版社:Hong Kong : Hong Kong University Press, c2003.
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0 索取号:F133-61/E20061 作者:Tan、 Andrew T. H.、 出版社:London : Europa Publications, c2004.
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0 索取号:F130.4/E20051 作者: 出版社:London : Routledge, 2005.
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0 索取号:TN431.202/E991.2 作者:Rabaey、 Jan M.、Chandrakasan、 Anantha.、Nikoli?、 Borivoje.、 出版社:北京 : 清华大学出版社, 2004.
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0 索取号:D632.4-532/E20051 作者: 出版社:Aldershot, Hampshire, England ; Burlington, VT : Ashgate, c2002.
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0 索取号:D815/E20061 作者: 出版社:London ; New York : Routledge, 2006.
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